LSI故障解析技術のすべて
- 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー
- 著者： 二川清
- 書籍
- 出版社：工業調査会
- 発売日： 2007年11月
- Information
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- 価格（税込）：2,640円
- Vポイント：12pt
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- 在庫なし
この商品の説明
著者/アーティスト
著者: 二川清
目次
第１章 ＬＳＩの故障とその特徴（故障解析に関連するＬＳＩのトレンド；ＬＳＩの故障の特徴；ＬＳＩの故障モードと故障メカニズム）；第２章 ＬＳＩ故障解析技術概論（ＬＳＩ故障解析の基本の「き」；故障解析の手順；故障解析技術の分類；パッケージ部の故障解析；チップ部の故障解析）；第３章 故障解析事例（ＤＲＡＭのＩＲ‐ＯＢＩＲＣＨなどによる解析事例；ロジックＬＳＩの解析事例；パワーＭＯＳ－ＦＥＴの解析事例；ＴｉＳｉ配線の解析事例；銅配線の解析事例；パッケージ中ボイドの解析事例）；第４章 新しい故障解析関連技術の開発動向（光を利用した故障解析技術発展の流れと最近の動向；ＯＢＩＲＣＨ関連技術発展の流れと最近の動向；そのほかの故障解析技術関連の開発動向；ＬＳＩＴＳ（ＬＳＩテスティングシンポジウム），ＩＳＴＦＡ（故障解析国際会議）にみる動向）
商品仕様
- アイテム名:書籍
- ページ数:２２１ｐ
- 大きさ:２１ｃｍ（Ａ５）
- 出版社:工業調査会
- ISBN-10:4769312695
- ISBN-13:9784769312697
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